簡述胰島素抵抗的檢驗方法

胰島素抵抗的檢測方法很多，按設計原理大致分為三類：開環法：即阻斷內源性葡萄糖與胰島素反饋環法，如正常葡萄糖高胰島素鉗夾技術、胰島素抑制試驗。閉環法：即激發葡萄糖與胰島素反饋環法，如最小模型技術、口服葡萄糖耐量試驗、胰島素耐量試驗、胰高血糖素試驗和持續輸注葡萄糖模型分析法；基礎狀態法：用基礎狀態下的空腹血糖（FPG）和空腹胰島素濃度（FBI）兩個指標評估胰島素抵抗，如FBG/FBI，1/FBG×FBI和穩態模型評價（HOMA）等。

正常血糖高胰島素鉗夾技術（EICT）被公認為評價胰島素的金標準；最小模型法與EICT相關性好，被認為是準確性較高的檢測方法但兩種方法操作繁瑣，不適合大樣本人群胰島素抵抗的普查。胰島素敏感指數、穩態模型法以及空腹胰島素水平等方法簡便易行，以被廣泛應用于胰島素抵抗的普查。

EICT是目前公認的檢測胰島素抵抗的方法，被認為是IR檢測的金標準。本方法是測定組織對外源性胰島素敏感性的方法，快速連續胰島素灌注使血漿胰島素濃度迅速升高并維持在一定水平，改變葡萄糖灌注率使血糖穩定在基線水平。在這種水平下可通過抑制肝糖輸出和內源性胰島素的分泌，即阻斷內源性葡萄糖-胰島素反饋，這時葡萄糖灌注率等于外源性胰島素介導的機體葡萄糖代謝率。

具體方法為：空腹12h，抽血測基礎血糖、胰島素的值，靜滴胰島素5mU/kg.min，使血胰島素維持在100mU/L，保持此速率不變，然后靜滴2%葡萄糖（2mg/kg.min），每隔5min監測血糖一次，并用Harvard泵調整葡萄糖的輸注速率（GIR），以外源性胰島素鉗制血糖于正常水平（1mmol/L）持續60min。血胰島素濃度在50mU/L以上能抑制90%肝臟內源性葡萄糖生成，因此外源注入葡萄糖量減去機體所有組織攝取量，即為胰島素介導的葡萄糖代謝率和單位胰島素所代謝葡萄糖量，這就是胰島素敏感性指標，應用較普遍。GIR越小，機體胰島素抵抗越嚴重。與胰島素耐量試驗（ITT）相比，具有不產生低血糖和伴隨的復雜神經內分泌反應等優點，因為以每5min間隔計算葡萄糖代謝率，可測組織對胰島素敏感的時間曲線，對闡明疾病的發病機制有幫助。該試驗排除了體內許多難以控制的干擾因素對評價IR的影響。但該試驗時葡萄糖可受胰島素水平改變時周圍血流變動的影響；并與輸入胰島素量而非胰島素濃度相關。但是完成試驗需要床邊血糖自動分析議和Harvard泵等特殊設備，每5min調整GIR，費用昂貴，限制了此技術的推廣。